半導体検査用プローブのコーティング

前工程 後工程

C3(Conductive Carbon Contact)コーティング

コベルコ科研マテリアル事業部から、半導体の検査工程に使用されるプローブの高機能コーティングをご紹介します。
独自の材料設計、コーティング技術により、低抵抗+高硬度+低摩擦なDLCを実現しました。プローブピンのはんだ付着の防止、耐摩耗性の向上に寄与致します。
後工程を中心に多くのメーカー様にご採用いただいております。

取扱会社:株式会社コベルコ科研

ポイント

  • 低抵抗導電性DLCコーティング
  • 高硬度、低摩擦

効果

  • 疑似不良、クリーニング頻度の低減
  • プローブの長寿命化

特徴

半導体検査用プローブ先端にC3コーティングすることで、プローブ先端からはんだを効率よく排斥。検査用プローブのコンタクト抵抗が長期的に安定。

ラインナップ

標準ラインナップ

Grade 特徴
R 汎用グレード(抵抗、耐摩耗性のバランス)
C 低抵抗グレード
E 酸化抑制グレード
B 非磁性グレード
  • グレードの選定
  • コーティング実績のある材質
  • その他、プローブ以外の用途

などご相談ください

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